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梅特勒XS3DU微量天平(江苏)

描述:XS3DU梅特勒XS3DU微量天平(量程0.8g/3.1g,分辨率1ug/10ug)具有高性能的称量传感器,提供称量结果的至高重复性。TouchScreen触摸屏,实现快速简单的称量操作。消除称量样品和容器中积聚的静电荷,确保称量的准确性。

更新时间:2016-09-09
产品型号:XS3DU
厂商性质:经销商
详情介绍

XS3DU梅特勒XS3DU微量天平

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的称量性能,*基础称量应用:在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中*的重复性可低至0.8 μg,是获得理想的称量可靠性的关键,避免不必要的重复测试,显著地降低了样品和时间的浪费。

梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。

规格 - XS3DU微量天平

物料号 (s)11122445
商业名称Opulino
极限值XS3DU 双量程
zui大称量值3.1 g
可读性0.01 mg
zui大称量值0.8 g
可读性0.001 mg
重复性(sd) - 加载处0.006 mg
- 低加载(加载处)0.005 mg (0.2 g)
重复性(sd) - 加载处0.001 mg
- 低加载(加载处)0.0008 mg (0.2 g)
线性误差0.004 mg
  
典型值 4) 
典型重复性(sd)0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非线性(sd)√2x(10-12)g·R_nt
  
典型灵敏度偏移(sd)2)3 x (10–6)•R_nt
典型zui小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型稳定时间< 6 sec
稳定时间< 10 sec

1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) *次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度  sd=标准偏差      Rgr=毛重     Rnt=净重(样品质量)   a=年
*  重复性和zui小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。

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